介质薄膜膜厚量测
设备系列
产品介绍
产品特点
1. 高精度、高重复性膜厚测量,全面覆盖多种工艺需求,宽光谱椭偏仪、激光椭偏仪、反射式膜厚仪、应力等多种非接触光学探头可。愀髦至坎獬【靶枨螅
2. 全自动量测任务下发及结果上报,节约人力成本;
3. 多维度量测结果评价与展示,直观展示工艺问题;
4. 配置离线分析和批量导入,节约机台使用时间。
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三维形貌量测设备系列
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