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    介质薄膜膜厚量测

    设备系列

    LATI
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    产品介绍

    该系列设备主要应用于晶圆纳米级的单/多层膜、金属膜的膜厚测量,采用椭圆偏振技术和光谱反射技术实现高精度薄膜膜厚、n-k值的快速测量。主要应用在集成电路前道领域。

    产品特点

    1. 高精度、高重复性膜厚测量,全面覆盖多种工艺需求,宽光谱椭偏仪、激光椭偏仪、反射式膜厚仪、应力等多种非接触光学探头可。愀髦至坎獬【靶枨螅

    2. 全自动量测任务下发及结果上报,节约人力成本;

    3. 多维度量测结果评价与展示,直观展示工艺问题;

    4. 配置离线分析和批量导入,节约机台使用时间。

     

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