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良率管理系统软件IVY-DMS/YMS，是分析检测、量测等良率相关数据的必要工具，运用统计分析和机器学习方法，以及定制化的工作流，绘制丰富的良率报表，为工程师提供有力的决策支持。IVY能及时发现产线异常状态，协助PIE、YE、PE、AOI分析产线良率下降的原因，从而有效地提升半导体制造良率和产品性能。

1. 简单易用的界面，拖拽分析，动态布局，高度自定义，满足您的个性化需求；

2. Browser/Server架构，快速迭代定制开发，轻松应对各种场景需求；

3. GPU运算与分布式架构，确保7x24不间断运行，百万缺陷数据流畅分析；

4. 机器学习与深度学习模型，结合大数据分析，为您的根因分析、预测性维护和虚拟量测提供全方位解决方案；

5. 数据安全无忧，IVY采用集群方案，负载均衡、数据备份与恢复，确保系统的稳定与可靠；

6. 依据各类数据建立AI模型，预测产品良率，助力良率提升；

7. 节省80%以上人力，自动化监控与良率分析助力企业效益增长。